Máy kiểm tra khuyết tật X-eye NF 120B giá rẻ nhất thị trường

Giá bán: Liên hệ

Kho hàng: Còn hàng

Mô tả sản phẩm:

Nhà Sản Xuất : SEC
Xuất Xứ : Korea

MUA NGAYGiao hàng tận nơi CHO VÀO GIỎCho vào giỏ để chọn tiếp LIÊN HỆ CỬA HÀNG

Gọi mua hàng cơ sở Hà Nội

Zalo 024.36878666 0975868599
Gọi mua hàng cơ sở Hồ Chí Minh

Zalo 028.38130866 0975868599

CÁC SHOWROOM CỦA HAVIETPRO

B27 Lô 19 khu đô thị Định Công,phường Định Công,quận Hoàng Mai, Hà Nội Số 61/7 Bình Giã, phường 13, quận Tân Bình, Thành phố Hồ Chí Minh.

YÊN TÂM MUA SẮM TẠI havietpro

Giá cả cạnh tranh, hàng hóa đa dạng

1 đổi 1 trong vòng 03 ngày

Giao hàng miễn phí trong bán kính 20km

Mua hàng online rẻ hơn, thêm quà

Xin quý khách lưu ý:

* Sản phẩm chính hãng,mới 100%.

* Miễn phí giao hàng và bảo hành tại nơi sử dụng trong nội thành Hà Nội, TP HCM. Với các khu vực khác, tùy từng sản phẩm mà chúng tôi có hỗ trợ miễn phí hoặc không.

* Giá bán trên website là giá chưa bao gồm thuế giá trị gia tăng (VAT).

* Thông tin sản phẩm và hình ảnh được cập nhật theo thông tin của nhà sản xuất cung cấp.

Xem thêm

Thông tin sản phẩm

Máy kiểm tra khuyết tật X-eye NF 120B

Máy kiểm tra khuyết tật X-eye NF 120B là hệ thống kiểm tra tia X tập trung Nano.

Máy kiểm tra khuyết tật X-eye NF 120B

Đặc điểm của máy cụ thể là:

Ống lấy nét nano có độ phân giải 400 nano được lắp đặt chuyên dùng cho bao bì bán dẫn, bao bì cấp độ wafer (WLP) yêu cầu phát hiện các khuyết tật Sub-micron.
Có thể theo dõi và kiểm tra chính xác khu vực bị khuyết bằng chuyển động chính xác của trục với bảng chống rung.
Tích hợp sẵn chế độ chụp cắt lớp nếu mô-đun CT 3D vào. Kiểm tra tự động wafer Bump từ tải đến kiểm tra với các hệ thống xử lý wafer.
Hệ thống phân tích không phá hủy đối với bao bì cấp wafer
Hình ảnh độ phân giải cao với CT loại kép
Ứng dụng: TSV, Micro Bump, Hoa văn

Xem thêm nội dung

Thông số kỹ thuật