Máy X-Ray Techvalley ENIF2-Standalone (XRD) ENIF2-Benchtop (XRD) là dòng máy đo nhiễu xạ tia X dùng để phân tích định tính và định lượng những vật liệu có cấu trúc đa tinh thể. Phân tích định danh hay bán định trên mẫu có bề mặt phẳng, không đều hay với lượng rất nhỏ mà không cần phải phá hủy mẫu với thời gian phân tích rất nhanh. Thiết bị có thiết kế nhỏ gọn, chắc chắn, dễ lắp đặt và vận hành, chi phí bảo trì thấp.
Máy X-Ray Techvalley ENIF2-Standalone (XRD) ENIF2-Benchtop (XRD)
Đặc điểm, tính năng nổi bật của máy X-Ray Techvalley ENIF2-Standalone (XRD) ENIF2-Benchtop (XRD)
Đo nhiễu xạ của mẫu thiết bị phân tích không phá hủy
Nhiễu xạ tia X
Kiểm tra hằng số mạng từ bước sóng
Ứng dụng tổng hợp vật liệu mới, lắng đọng màng mỏng
Kiểm tra hằng số mạng theo góc
Đang cập nhật...